第二届《复杂探区静校正高级研讨会》

      2007年5月19日，由北京帕美智软件开发有限公司主办的《第二届复杂探区静校正高级研讨会》在北京胜利召开，参会代表均为ToModel软件用户，会上对该软件的应用情况进行了技术交流，研讨会期间还对用户带来的实际数据进行了重点剖析，并免费对用户当时的版本全部进行了免费升级，体现了帕美智公司以推动我国近地表技术进步为己任的历史责任和使命感。